Антенный полигон
Автоматизированный измерительно-вычислительный комплекс предприятия для измерений радиотехнических характеристик (РТХ) антенн в дальней и ближней зонах (далее по тексту АИВК) предназначен для измерения во временной области следующих параметров апертурных антенн:
- Амплитудных (АДН) и фазовых (ФДН) диаграмм направленности;
- Объемных амплитудных и фазовых диаграмм направленности;
- Сечений АДН в любой плоскости;
- Амплитудного и фазового распределения поля в апертуре;
- Поляризационных характеристик;
- Координат фазового центра;
- Коэффициента усиления (КУ);
с обработкой, регистрацией, визуализацией и каталогизацией результатов измерений.
Основные технические характеристики АИВК приведены в таблице:
№ п/п |
Наименование параметра |
Значение параметра |
1 |
Диапазон рабочих частот комплекса, ГГц |
0,2 – 67 |
2 |
Размер рабочей зоны Т-сканера, м |
3 х 3 |
3 |
Число программно-управляемых координат сканера |
4 (X, Y, Z, P), где Р - поляризация |
4 |
Масса сканера, кг |
500 |
5 |
Физические размеры сканера, не более, м |
3,8 х 3,8 х 0,8 |
6 |
Программно-управляемые координаты опорно-поворотного устройства (ОПУ) |
AZ – азимут,
P – поляризация,
EL – элевация,
Верхний слайдер
|
7
|
Технические характеристики ОПУ:
- Диапазон изменений азимутального угла
- Диапазон изменений угла элевации
- Диапазон изменений угла поляризации
- Диапазон перемещения по верхнему слайдеру, не более, мм
- Диапазон перемещения по нижнему слайдеру, не более, мм
- Максимальная нагрузка на ОПУ, не менее, кг/м
|
± 180°
+ 90°, минус 45°
± 180°
1 265
6 000
70 / 0,6
|
8 |
Потребляемая мощность, не более, Вт |
3 000 |
9 |
Питание |
220 В, 50 Гц |
Основными особенностями измерительного комплекса являются:
возможность проведения измерений в ближней и дальней зонах;
возможность сканирования методом плоского сканера для направленных апертурных антенн (рупорные, зеркальные и т.п.) и антенных решеток с электрическими размерами, по крайней мере, порядка нескольких длин волн и с коэффициентом усиления, по некоторым оценкам, порядка ³15 дБ. Максимальный сектор углов диаграммы направленности, который может быть измерен при плоском сканировании составляет ± 60…70°;
возможность измерений во временной области: в программном обеспечении предусмотрена возможность использования различных типов сглаживающих функций: Хана, Хэмминга, Блэкмана, Ланцоша или Каппелини, с целью описания амплитудно-фазового распределения поля на плоскости вблизи раскрыва антенны;
возможность расчета коэффициента направленного действия - рассчитывается путем численного интегрирования нормированной объемной диаграммы направленности;
возможность расчета коэффициента усиления - измеряется путем сравнения с эталонной антенной. Для этого измеряются распределения ближнего поля исследуемой и эталонной антенн;
возможность измерения или расчета поляризационных характеристик на частоте wq – коэффициент эллиптичности и угол наклона поляризационного эллипса – определяются с помощью специального программного обеспечения;
возможность цилиндрического сканирования используется для измерения антенн с диаграммами направленности "веерного" типа (широкими в одной плоскости и узкими в другой). При этом измеряемая антенна вращается на опорно-поворотном устройстве, а зонд перемещается линейно в вертикальном направлении и таким образом формируется цилиндрическая поверхность обзора. Цилиндрическое сканирование "веерных" антенн позволяет получить полную диаграмму направленности по азимуту, но ограниченную диаграмму по углу места из-за ограничения области сканирования в направлении Y;
возможность сферического сканирования для измерения слабонаправленных неапертур-ных антенн и антенн с малыми электрическими размерами. Угловой шаг измерений должен удовлетворять условию: ∆j=∆q£λ/2a (где a – минимальный радиус сферы, в которую может быть впи-сана исследуемая антенна);
возможность измерения или расчета сечений диаграмм направленности в плоскости азимута, элевации и крена;
возможность расчета суммарных диаграмм направленности для антенн с элиптической поляризацией;
возможность расчета положения фазового центра антенн;
возможность измерения амплитудного и фазового распределения поля.